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【2h】

ASIC wafer test system for the ATLAS semiconductor tracker front-end chip

机译：用于ATLAS半导体跟踪器前端芯片的ASIC晶圆测试系统

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Anghinolfi F; Kaplon J; Bialas W; Busek N; Ciocio A; Fadeev V; Gilchriese M; Haber C; Niggli H; Spieler H; Stezelberger T; Vu C; Yaver H; Zetti F; Cosgrove D; Flacco C; Grillo AA; Rosenbaum F; Wilder M; Lacasta C; Murray W J; Pritchard T;
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年度 2001
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机译：用于atlas半导体跟踪器前端芯片的asic晶圆测试系统

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